Servicios y unidades. CIC. Centro de Instrumentación Científica

Unidad: ESPECTROSCOPÍA FOTOELECTRÓNICA DE RAYOS X [XPS]
Fuentenueva. Sede Central

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EQUIPO: Espectrómetro de Fotoelectrones de Rayos-X Kratos Axis Ultra-DLD, compuesto de:

- Cámara de análisis con accesorio de calentamiento (hasta 600 ºC) y enfriamiento (hasta -150 ºC) de las muestras.
- Fuente de rayos-X de doble ánodo (Mg/Al). Potencia 450 W.
- Monocromador Al Kα. Potencia 600 W.
- Manipulador de muestras automático de alta precisión (x, y, z, θ).
- Cámara de admisión de muestras.
- Analizador hemisférico de electrones conectado a un detector DLD (delay-line detector).
- Cañón de iones con entrada de gas integrada (Ar) para decapado y desbastado de superficies.
- Fuente de electrones para neutralización de cargas.
- Sistema de video-microscopio.
- Sistema de generación y medida de ultra alto vacío (10^-10 Torr) compuesto de bomba turbomolecular (cámara de admisión) y bomba iónica con bomba de sublimación de titanio (cámara de análisis).
- Computador y Software para adquisición y procesado de datos.

Técnicas: XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy). Permite el análisis de una región de la muestra (300 µm x 700 µm de área) o de un punto determinado (110 µm, 55 µm, 27 µm o 15 µm de diámetro).; El equipo dispone de un cañón de iones que permite combinar su elevada sensibilidad superficial con el ataque iónico (ion-etching), de manera que se obtiene la composición química en función de la profundidad (depth profiles). Esta técnica también se utiliza para realizar limpiezas superficiales; La técnica ARXPS (Angle-Resolved XPS) permite analizar la composición superficial de una muestra con resolución angular.; El modo map permite obtener mapas superficiales rastreando una energía determinada.

Aplicaciones: Análisis químico de superficies. Identificación de todos los elementos presentes (excepto H y He). Determinación cuantitativa de la composición elemental de la superficie.; Obtención de información acerca del entorno molecular: estado de oxidación, átomos enlazantes, etc.; Realización de perfiles de profundidad.; Realización de limpiezas superficiales.; Análisis de aislantes.; Caracterización de recubrimientos.; Caracterización superficial de catalizadores.; Caracterización de láminas delgadas.; Caracterización de polímeros.; Estudios de oxidación, corrosión o degradación de un material.