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SERVICIO DE MICROSCOPÍA
Unidad
ME DE BARRIDO DE PRESIÓN VARIABLE [VPSEM]
Fuentenueva. Sede Central
 
 
EQUIPO
Microscopio Electrónico de Barrido de Presión Variable, de Alta Resolución (FESEM)
Zeiss SUPRA40VP dotado de:

    -Fuente de electrones por emisión de campo tipo Schottky (cátodo caliente).
    -Tensión de aceleración desde 0.2kv a 30 kv.
    -Resolución: 1.3nm@ 15Kv; 2,1@ 1kv;2nm@ 30Kv (VP mode).
    -Imágenes de alta calidad y resolución a incluso bajos Kv y/o bajo vacío (hasta 400Pa)
    -Detectores:
    SE secundarios en alto vacío (topográfico lateral), In Lens secundarios en alto vacío(topográfico cenital),VPSE secundarios en bajo vacío, AsB Retrodispersados en alto y bajo vacío, STEM Transmitidos DF y BF.
    -Sistema de Microanálisis por Energía Dispersiva de Rayos X (EDX) con detector de gran superficie X-Max 50mm
    -Analizador Quimico Estructural (SCA), espectrómetro Raman con dos líneas de excitación laser de 532 y 785nm.


Microscopio Electrónico de Barrido de Presion Variable, LEO 1430-VP dotado de:

    -Filamento de Wolframio, con una resolucion espacial de 3.5 nm.
    -Tensión de aceleración desde 0.2kv a 30 kv.
    -Rangos de aumentos de 15x a 300kx dependiendo de las condiciones de trabajo.
    -Control digital de todas las funciones.
    -Detector de SE de alto vacio, tipo centelleador de fosforo acoplado opticamente al fotomultiplicador.
    -Detector de Se de bajo vacio, con polarizacion ajustable en continuo entre -250V y +400V.
    -Detector de BSE en alto vacio y presion variable, tipo estado solido, de 4 cuadrantes con control independiente cada uno de los diodos para la obtención de imágenes por composición y por topografia.
 
Técnicas
     Para el SUPRA40VP:
Estudio morfológico , analítico y estructural de las muestras, incluso no conductoras
Imágenes de electrones transmitidos (STEM) a bajo Kilovoltaje (hasta 30Kv)
3Imágenes digitales morfológicas, químicas, así como mapas de Rayos X .
Análisis cuali-cuantitativo por EDX(este ultimo en muestras delgado pulidas en condiciones de Alto vacio).
Análisis químico-estructural por Espectroscopia Raman.

Para el LEO 1430-VP:
Digitalización de cualquier imagen obtenida en el microscopio.
Estudios topograficos y estructurales de las muestras , distribución de elementos composicionalmente por numero atomico medio de sus componentes en muestras pulidas.
 
Aplicaciones
     Para el SUPRA40VP:
Investigación basica en Ciencias Biomédicas, Geológicas, Químicas, Físicas, Bellas Artes, Ingenierías, Arquitectura...
Estudio morfológico-composicional de muestras orgánicas e inorgánicas con aplicaciones en: Control de Calidad industrial, conservación de Patrimonio, Farmacologico, Biomedico, Minero, Forense, etc.

Para el LEO 1430-VP:
Investigación en general en Ciencias Biomédicas, Geológicas, Químicas, Físicas,
Bellas Artes, Ingenierías, Arquitectura...
Estudio morfológico de muestras orgánicas e inorgánicas, control de calidad, alteración de monumentos…
 
Técnico Responsable
Isabel Guerra Tschuschke 958249990 iguerra@ugr.es 8h a 15h