CIC. Centro de Instrumentación CientíficaCIC. Centro de Instrumentación Científica

Servicios y unidades

Seleccione Servicio y Unidad

Servicio
SERVICIO DE MICROSCOPÍA
Unidad
MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA [AFM]
 
Tarifas MICROSCOPÍA
Código Concepto Precio
AFM001 Hora de sesión con Microscopio de Fuerza Atómica 90.00
AFM002* Adquisición punta PPP-NCHR 5M para topografía Modo no contacto (sin descuento) p
AFM003* Adquisición punta PPP-CONTSCR 10M para topografía Modo contacto (sin descuento) p
AFM004* Hora alquiler punta PPP-NCHR 5M para topografía Modo no contacto (sin descuento) p
AFM005* Hora de alquiler punta PPP-CONTSCR 10M para topografía Modo contacto (sin descuento) p
AFM006* Sustrato de mica para la deposición de la muestra (sin descuento) p
AFM007* Sustrato de HOPG para la deposición de la muestra (sin descuento) p
AFM008* Sustrato de silicio para la deposición de la muestra (sin descuento) p
AFM009 Hora de trabajo de Técnico Superior 63.92
AFM010* Varios (sin descuento) p
AFM011* Hora de alquiler punta CDT-CONTR para medidas de C-AFM (Sin descuento) p
AFM012* Hora de alquiler punta NSC - 14 para medidas de FMM (Sin descuento) p
AFM013* Sustrato para C-AFM: Silicon Wafer P-(Boron) doped. (Sin descuento) p
AFM014* Sustrato para C-AFM: Silicon Wafer N-(As) doped. (Sin descuento) p
Usuarios UGRA: Se abonará el 25%
Usuarios OPIS: Se abonará el 50%
Usuarios PRIV: Se abonará el 100%
*Se abonará el 100% del precio independientemente del tipo de Usuario