Microscopía de Fuerza Atómica [AFM]

Equipo

Microscopía de fuerza atómica
  • Microscopio de Fuerza atómica NX20 (Park Systems)
  • Microscopio de fuerza atómica con platina motorizada (recorrido XY: 150 mm; recorrido Z: 25 mm); fijación de obleas por vacío y platina multimuestra hasta 16 muestras.
    • Escáner XY:
      • Escáner de módulo simple de flexión XY con control de bucle cerrado.
        Rango de escaneo: 100 μm x 100μm.
        Control de posición de 20-bit y sensor de posición de 24-bit.
    • Escáner Z:
      • Escáner piezoeléctrico apilado en Z de elevada fuerza guiada.
        Rango de escaneo: 15 µm.
        Control de posición de 20-bit y sensor de posición de 24-bit.
    • Lentes del objetivo:
      • 10× (0.21 NA) lentes para una distancia de trabajo ultra larga.
        Objetivo en eje de visión de la superficie de la muestra y el cantiléver.
        Acoplado con lente objetivo 10x Campo de visión: 840 × 630 µm.
        CCD : 5M pixel.

Técnicas

  • Estándar de imagenología:
  • Caracterización general:
  • Propiedades eléctricas:
  • Celda de Líquidos
  •  
  • Sonda de Líquidos
  • AFM True Non-Contact ; Contacto básico AFM y DFM; Microscopía de Fuerza Lateral (LFM); Imagenología de Fase; AFM Intermitente (repiqueteo).
  • Microscopía de fuerza magnética (MFM)
    Microscopía térmica de barrido (SthM)
    Espectroscopía de Fuerza-Distancia (F-D)
    Microscopía de Efecto túnel (STM)
    Microscopía de Modulación de Fuerza (FMM)
    Nanoindentación; Nanolitografía; Nanomanipulación
  • Microscopía de barrido capacitancia (SCM)
    AFM conductivo
    Microscopía de fuerza electrostática (EFM)
    Microscopía de fuerzas piezoeléctricas (PFM)
    Microscopía de sonda Kelvin de barrido (SKPM)
  • Celda Universal de líquidos: celda para líquidos abierta o cerrada con perfusión de líquidos/gases
    Rango de control de temperatura: hasta +180º C (en aire), hasta +150ª C (con líquidos)
    Celda de líquidos abierta o cerrada
  • Designada para muestras en medios líquidos
    Resistente a la mayoría de disoluciones buffer incluyendo ácidos
    Muestreos en líquido en modos Contacto y No Contacto

Aplicaciones

  • Estudio morfológico y de las propiedades químico-físicas de nanoestructuras moleculares.
  • Estudio de procesos dinámicos, cinéticas de disolución y crecimiento.
  • Estudio de agregados de proteínas, biofilms y colóides.
  • Medidas de nanolitografía, conductividad electrónica y propiedades mecánicas de circuitos electrónicos.

Asesor/a Científico/a

Personal Técnico

Publicaciones

  • Unidad de Microscopía de Fuerza Atómica

Tarifas

Tarifas
AFM001
Hora de sesión con Microscopio de Fuerza Atómica
123
AFM004
Hora alquiler punta para topografía Modo no contacto (sin descuento)
4
AFM005
Hora alquiler punta para topografía modo tapping y contacto (sin descuento)
18
AFM006
Sustrato de mica por muestra (sin descuento)
0.51
AFM007
Sustrato de HOPG para la deposición de muestra por muestra (sin descuento)
20
AFM008
Sustrato de silicio para la deposición de muestra por muestra (sin descuento)
3
AFM009
Hora de trabajo de Técnico Superior
86
AFM011
Hora de alquiler de punta CDT-CONTR (sin descuento)
13
AFM012
Hora de alquiler punta NSC-14 (sin descuento)
4
AFM015
Hora de alquiler de punta CONTSCPt (sin descuento)
20
AFM021
Hora de alquiler de punta MFMR (sin descuento)
17
  • Usuarios UGRA: Se abonará el 30% del precio.
  • Usuarios OPIS: Se abonará el 50% del precio.
  • Usuarios PRI: Se abonará el 100% del precio.
  • Bajo presupuesto: Se abonará el 100% del precio independientemente del tipo de Usuario.