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SERVICIO DE MICROSCOPÍA
Unidad
ME DE TRASMISIÓN DE ALTA RESOLUCIÓN [HRTEM]
Fuentenueva. Sede Central
 
 
EQUIPO
Microscopio electrónico de trasmisión de alta resolución y STEM PHILIPS CM20 :

    -Tensión de aceleración: con pasos seleccionables de 20, 40, 80, 120, 160 y 200 KV
    -Magnificación: a) TEM: 660.000X; b) STEM: 300.000X
    -Máxima resolución: a) TEM: entre puntos: 2.7 A, y entre líneas: 1.4 A; b) STEM: 50 A
    -Sistema EDAX de microanálisis mediante dispersión de energía de Rayos X (EDX), tanto cualitativos como cuantitativos, de áreas de muy reducido tamaño

Microscopio electrónico de trasmisión de ultra alta resolución y HAADF FEI TITAN G2 :

    -Tensión de aceleración: con pasos seleccionables de 50 a 300 kV, con pasos prefijados a 50, 100, 150, 200, 250 y 300 kV.
    -Magnificación: a) TEM: 1.25MX; b) STEM: 165MX
    -Máxima resolución: Resolución TEM 0.8 Å y resolución STEM 2 Å
    -Cañon de emisión de campo de tipo XFEG con filamento tipo Schottky
    -Corrector de aberración esférica para lente objetivo (corrector Cs de imagen).
    -Detector de STEM de tipo HAADF.
    -Sistema FEI de microanálisis mediante dispersión de energía de Rayos X (EDX) Super X equipado con 4 detectores. Realización de análisis cualitativos y cuantitativos así como mapas elementales de RX con sistema de corrección de la deriva de la imagen.
    -Filtro de Energía (EELS) Gatan GIF2002P, equipado con sistema de captación de imagen digital y obtención automática de espectros de pérdida de energía así como imágenes filtradas.
    -Sistema de tomografía con adquisición de tomogramas entre +70º y -70º en modo TEM y STEM, reconstrucción tridimensional y visualización.
 
Técnicas
TEM y NANOPROBE:

    -Difracción de electrones (SAED)
    -Contraste de amplitud:
      Campo claro (BF), formación de imágenes utilizando únicamente el rayo transmitido
      Campo oscuro (DF), formación de imágenes utilizando rayos difractados
    -Contraste de fase: imágenes de alta resolución, utilizando el rayo transmitido y varios difractados

STEM: permite la formación de imágenes de barrido de los electrones trasmitidos
EDX
EELS
Tomografía
 
Aplicaciones
Investigaciones geomineras, cristalográficas, mineralógicas y petrológicas
Física del estado sólido, nuevos materiales y Química Inorgánica
Control de calidad y estudio de fatiga de materiales
Estudio de proteínas, ácidos nucléicos, virus, liposomas y bacterias
 
Técnico Responsable
Mª del Mar Abad Ortega 958249989 mmabad@ugr.es 8h a 15h Javier Cifuentes Melchor 958244209/ 958246604 javcif@ugr.es 8h a 15h