Equipo
- Espectrómetro de Fotoelectrones de Rayos-X Kratos Axis Ultra-DLD, compuesto de:
- Cámara de análisis con accesorio de calentamiento (hasta 600 ºC) y enfriamiento (hasta -150 ºC) de las muestras.
- Fuente de rayos-X de doble ánodo (Mg/Al). Potencia 450 W.
- Monocromador Al Kα. Potencia 600 W.
- Manipulador de muestras automático de alta precisión (x, y, z, θ).
- Cámara de admisión de muestras.
- Analizador hemisférico de electrones conectado a un detector DLD (delay-line detector).
- Cañón de iones con entrada de gas integrada (Ar) para decapado y desbastado de superficies.
- Fuente de electrones para neutralización de cargas.
- Sistema de video-microscopio.
- Sistema de generación y medida de ultra alto vacío (10-10 Torr) compuesto de bomba turbomolecular (cámara de admisión) y bomba iónica con bomba de sublimación de titanio (cámara de análisis).
- Computador y Software para adquisición y procesado de datos.
Técnicas
- XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy). Permite el análisis de una región de la muestra (300 µm x 700 µm de área) o de un punto determinado (110 µm, 55 µm, 27 µm o 15 µm de diámetro).
- El equipo dispone de un cañón de iones que permite combinar su elevada sensibilidad superficial con el ataque iónico (ion-etching), de manera que se obtiene la composición química en función de la profundidad (depth profiles). Esta técnica también se utiliza para realizar limpiezas superficiales
- La técnica ARXPS (Angle-Resolved XPS) permite analizar la composición superficial de una muestra con resolución angular.
- El modo map permite obtener mapas superficiales rastreando una energía determinada.
Aplicaciones
- Análisis químico de superficies. Identificación de todos los elementos presentes (excepto H y He). Determinación cuantitativa de la composición elemental de la superficie.
- Obtención de información acerca del entorno molecular: estado de oxidación, átomos enlazantes, etc.
- Realización de perfiles de profundidad.
- Realización de limpiezas superficiales.
- Análisis de aislantes.
- Caracterización de recubrimientos.
- Caracterización superficial de catalizadores.
- Caracterización de láminas delgadas.
- Caracterización de polímeros.
- Estudios de oxidación, corrosión o degradación de un material.
Documentos Unidad XPS
Asesor/a Científico/a
Personal Técnico
Tarifas
Tarifas
XPS001
Hora de uso de Espectrómetro (mínimo 0,25 horas)
100
XPS002
Hora de alcance de alto vacío (mínimo 1 hora)
25
XPS003
Varios (sin descuento)
Bajo presupuesto
XPS004
Montaje de muestra
10
XPS005
Minuto de uso del cańón de iones (mínimo 15 minutos)
1.2
XPS006
Hora de uso de cámara catalítica (mínimo 2 horas)
70