Equipo
- Espectrómetro compacto de Fluorescencia de Rayos X por dispersión de longitudes de onda de altas prestaciones, con capacidad analítica para el análisis de muestras sólidas de distintos tamaños y matrices en el rango elemental del F al Uranio, marca PANalytical modelo Zetium, con la siguiente configuración:
- Tubo cerámico de Rayos X con ánodo de Rodio, con ventana frontal ultrafina de Berilio de alta transmisión, de al menos 75 micras y geometría del tubo por debajo de la muestra
- Generador de rayos X de 4 kW de potencia de alta estabilidad
- Goniómetro desacoplado θ/2θ con sistema de posicionamiento óptico y alta reproducibilidad angular (0.0001°).
- Tres colimadores de radiación adecuados para cubrir el rango analítico del espectrómetro, alta, media y baja resolución, incluyendo uno apto para longitudes de onda más largas (F a Cl).
- Cuatro filtros primarios de radiación, de aluminio y/o latón de varios espesores, adecuados a los programas de análisis de elementos traza.
- Cristales PE(200) para análisis desde Al a Cl, y Ge(110) para análisis de P y Cl (curvos para mejorar la sensibilidad y resolución de los picos) LIF(200) para análisis desde K a U, LIF(220) para resoluciones elevadas y cristales multicapa aptos para analizar desde F a Mg.
- Sistema de detección de radiación apto para todo el rango analítico del instrumento:
- Detector de Flujo de alto rango lineal de medida (mínimo 3 millones de cps)
- Detector de centelleo para la medida de radiaciones de alta energía (superior a 8 keV) y alto rango lineal (mínimo 3 millones de cps)
- Detector sellado de Xe acoplado al detector de gas, para mejorar sensibilidad y LLDs de los elementos cuyas líneas analíticas están entre 4 y 8 KeV
- Óptica y accesorios para la realización de mapping y análisis puntual de muestras de distinta naturaleza, con un tamaño de spot mínimo de 500 micras, basado en sistema de detección por dispersión de energías.
- Software analítico para análisis cualitativo y semicuantitativo OMNIAN. Éste es un programa para la caracterización de muestras desconocidas o para el análisis en situaciones donde no hay patrones disponibles, permitiendo la cuantificación de la muestra, la detección de elementos/compuestos no esperados, resolución de problemas de fábrica, etc., así como la comparación de diferentes materiales
- Software analítico Pro-Trace para el análisis de elementos traza en matrices geológicas.
- Muestreador Automático
- Perladora PHILIPS PERLX3
- Prensa hidráulica HERZOG
- Molino de anillos HERZOG
Técnicas
- Análisis de elementos desde número atómico 11 en adelante, en muestras sólidas, ya sea en concentraciones elevadas (elementos mayores) o en trazas. Los límites de detección típicos son de 0,01 % para los elementos mayores y de 1-5 ppm para los trazas.
- Realización de mapping y análisis puntual de muestras de distinta naturaleza, con un tamaño de spot mínimo de 500 micras, basado en sistema de detección por dispersión de energías.
Aplicaciones
- Análisis cuantitativo y semicuantitativo de suelos, rocas y minerales.
- Análisis cualitativo elemental de muestras sólidas.
- Mapping y análisis puntual con un tamaño de spot mínimo de 500 micras.
Asesor/a Científico/a
Personal Técnico
Tarifas
Tarifas
XRF001
Medida de mayores más ZR. Por muestra
24
XRF002
Medida de mayores más Zr, Sr, Cr, Y, Rb, Ni, Zn, V en perla. Por muestra
26
XRF003
Análisis standardless. Por muestra
26
XRF004
Medida de trazas en pastilla. Por muestra
38
XRF005
Medida de muestras especiales. Por minuto (mínimo15).
3
XRF006
Análisis SSM y EDS. Minuto (Mín. 60)
3
XRF100
Preparación de muestras (Pastilla). Por muestra
14
XRF101
Preparación de muestras (Perla). Por muestra
46
XRF103
Preparación de muestras (Prensar). Por muestra.
7
XRF104
Varios. (Sin descuento)
Bajo presupuesto