Equipo
- Espectrómetro compacto de Fluorescencia de Rayos X por dispersión de longitudes de onda de altas prestaciones, con capacidad analítica para el análisis de muestras sólidas de distintos tamaños y matrices en el rango elemental del F al Uranio, marca PANalytical modelo Zetium, con la siguiente configuración:
- Tubo cerámico de Rayos X con ánodo de Rodio, con ventana frontal ultrafina de Berilio de alta transmisión, de al menos 75 micras y geometría del tubo por debajo de la muestra
- Generador de rayos X de 4 kW de potencia de alta estabilidad
- Goniómetro desacoplado θ/2θ con sistema de posicionamiento óptico y alta reproducibilidad angular (0.0001°).
- Tres colimadores de radiación adecuados para cubrir el rango analítico del espectrómetro, alta, media y baja resolución, incluyendo uno apto para longitudes de onda más largas (F a Cl).
- Cuatro filtros primarios de radiación, de aluminio y/o latón de varios espesores, adecuados a los programas de análisis de elementos traza.
- Cristales PE(200) para análisis desde Al a Cl, y Ge(110) para análisis de P y Cl (curvos para mejorar la sensibilidad y resolución de los picos) LIF(200) para análisis desde K a U, LIF(220) para resoluciones elevadas y cristales multicapa aptos para analizar desde F a Mg.
- Sistema de detección de radiación apto para todo el rango analítico del instrumento:
- Detector de Flujo de alto rango lineal de medida (mínimo 3 millones de cps)
- Detector de centelleo para la medida de radiaciones de alta energía (superior a 8 keV) y alto rango lineal (mínimo 3 millones de cps)
- Detector sellado de Xe acoplado al detector de gas, para mejorar sensibilidad y LLDs de los elementos cuyas líneas analíticas están entre 4 y 8 KeV
- Óptica y accesorios para la realización de mapping y análisis puntual de muestras de distinta naturaleza, con un tamaño de spot mínimo de 500 micras, basado en sistema de detección por dispersión de energías.
- Software analítico para análisis cualitativo y semicuantitativo OMNIAN. Éste es un programa para la caracterización de muestras desconocidas o para el análisis en situaciones donde no hay patrones disponibles, permitiendo la cuantificación de la muestra, la detección de elementos/compuestos no esperados, resolución de problemas de fábrica, etc., así como la comparación de diferentes materiales
- Software analítico Pro-Trace para el análisis de elementos traza en matrices geológicas.
- Muestreador Automático
- Perladora PHILIPS PERLX3
- Prensa hidráulica HERZOG
- Molino de anillos HERZOG
Técnicas
- Análisis de elementos desde número atómico 11 en adelante, en muestras sólidas, ya sea en concentraciones elevadas (elementos mayores) o en trazas. Los límites de detección típicos son de 0,01 % para los elementos mayores y de 1-5 ppm para los trazas.
- Realización de mapping y análisis puntual de muestras de distinta naturaleza, con un tamaño de spot mínimo de 500 micras, basado en sistema de detección por dispersión de energías.
Aplicaciones
- Análisis cuantitativo y semicuantitativo de suelos, rocas y minerales.
- Análisis cualitativo elemental de muestras sólidas.
- Mapping y análisis puntual con un tamaño de spot mínimo de 500 micras.
Asesor/a Científico/a
Personal Técnico
Tarifas
Tarifas
XRF001
Medida de mayores más ZR. Por muestra
21.52
XRF002
Medida de mayores más Zr, Sr, Cr, Y, Rb, Ni, Zn, V en perla. Por muestra
23.9
XRF003
Análisis standardless. Por muestra
23.9
XRF004
Medida de trazas en pastilla. Por muestra
34.87
XRF005
Medida de muestras especiales. Por minuto (mínimo15).
2.49
XRF006
Análisis SSM y EDS. Minuto (Mín. 60)
2.49
XRF100
Preparación de muestras (Pastilla). Por muestra
12.43
XRF101
Preparación de muestras (Perla). Por muestra
41.57
XRF103
Preparación de muestras (Prensar). Por muestra.
6.2
XRF104
Varios. (Sin descuento)
Bajo presupuesto