Servicio
Equipo
- AURIGA (FIB-FESEM) de Carl Zeiss SMT. Estación de Trabajo CrossBeam por Bombardeo Iónico Focalizado, incorporada a un Mircroscopio Electrónico de Barrido de Alta Resolución por Emisión de Campo, dotado de:
- Fuente de electrones por emisión de campo tipo Schottky (SEM).
- FIB Cobra con fuente iónica de metal líquido Ga
- Imágenes de alta calidad y resolución a bajos voltajes de operación
- Detectores de SE, SE-inLens, BSE, EsB y STEM (BF/DF).
- Sistema de Análisis Químico y Cristalográfico (EDX y EBSD respectivamente) de Oxford Instruments
Técnicas
- Microfotografías digitales para imágenes topográficas por SE , de distribución química por BSE, perfiles analíticos y mapas de distribución de elementos por EDX , y mapas de orientaciones cristalinas y texturales por EBSD. Así como la posibilidad de observaciones mediante STEM
- Microanálisis cualitativo y cuantitativo por energía dispersiva de rayos X (EDX), para elementos de número atómico superior al Be.
- Estudio de microestructura en muestras policristalinas mediante la difracción de electrones retrodispersados (EBSD), identificación de fases, misorientación en límites de grano y análisis de texturas.
- Corte sobre zonas de interés in situ, haciendo posible la observación y los análisis directos sobre dichas zonas, así como la fabricación de lamelas, para su posterior observación en TEM
Aplicaciones
- Investigación en Ciencias Biomédicas, Geológicas, Químicas, Físicas, Ingenierías...
- Estudios de micro-estructuras, re-cristalización en metales y aleaciones; resistencia y fatiga de materiales; distribución y medida de granos en materiales deformados; semiconductores.
- Control de calidad en Industrias Metalúrgicas, Petroquímicas, Microelectrónica, Minera...
Asesor/a Científico/a
Personal Técnico
Tarifas
Tarifas
HRSEM001
Hora de uso de instrumento
120
HRSEM002
Hora de trabajo de Técnico Superior
84
HRSEM003
Varios (sin descuento)
Bajo presupuesto
HRSEM004
Hora de autoservicio tutelado
100