Microscopía Electrónica de Barrido de Presión Variable [VPSEM]

Servicio

Equipo

Microscopio electrónico de barrido de presión variable
  • Microscopio Electrónico de Barrido de Presión Variable, de Alta Resolución (FESEM). Zeiss SUPRA40VP dotado de:
    • Fuente de electrones por emisión de campo tipo Schottky (cátodo caliente).
    • Tensión de aceleración desde 0.2kv a 30 kv.
    • Resolución: 1.3nm@ 15Kv; 2,1@ 1kv;2nm@ 30Kv (VP mode).
    • Imágenes de alta calidad y resolución a incluso bajos Kv y/o bajo vacío (hasta 400Pa)
    • Detectores: SE secundarios en alto vacío (topográfico lateral), In Lens secundarios en alto vacío(topográfico cenital),VPSE secundarios en bajo vacío, AsB Retrodispersados en alto y bajo vacío, STEM Transmitidos DF y BF.
    • Sistema de Microanálisis por Energía Dispersiva de Rayos X (EDX) con detector de gran superficie X-Max 50mm
    • Analizador Quimico Estructural (SCA), espectrómetro Raman con dos líneas de excitación laser de 532 y 785nm.
  • Microscopio Electrónico de Barrido de Presion Variable, LEO 1430-VP dotado de:
    • Filamento de Wolframio, con una resolucion espacial de 3.5 nm.
    • Tensión de aceleración desde 0.2kv a 30 kv.
    • Rangos de aumentos de 15x a 300kx dependiendo de las condiciones de trabajo.
    • Control digital de todas las funciones.
    • Detector de SE de alto vacio, tipo centelleador de fosforo acoplado opticamente al fotomultiplicador.
    • Detector de Se de bajo vacio, con polarizacion ajustable en continuo entre -250V y +400V.
    • Detector de BSE en alto vacio y presion variable, tipo estado solido, de 4 cuadrantes con control independiente cada uno de los diodos para la obtención de imágenes por composición y por topografia.

Técnicas

  •  Para el SUPRA40VP:
    • Estudio morfológico , analítico y estructural de las muestras, incluso no conductoras
    • Imágenes de electrones transmitidos (STEM) a bajo Kilovoltaje (hasta 30Kv)
    • Imágenes digitales morfológicas, químicas, así como mapas de Rayos X .
    • Análisis cuali-cuantitativo por EDX(este ultimo en muestras delgado pulidas en condiciones de Alto vacio).
    • Análisis químico-estructural por Espectroscopia Raman.
  • Para el LEO 1430-VP:
    • Digitalización de cualquier imagen obtenida en el microscopio.
    • Estudios topograficos y estructurales de las muestras , distribución de elementos composicionalmente por numero atomico medio de sus componentes en muestras pulidas.

Aplicaciones

  • Para el SUPRA40VP:
    • Investigación basica en Ciencias Biomédicas, Geológicas, Químicas, Físicas, Bellas Artes, Ingenierías, Arquitectura...
    • Estudio morfológico-composicional de muestras orgánicas e inorgánicas con aplicaciones en: Control de Calidad industrial, conservación de Patrimonio, Farmacologico, Biomedico, Minero, Forense, etc.
  • Para el LEO 1430-VP:
    • Investigación en general en Ciencias Biomédicas, Geológicas, Químicas, Físicas, Bellas Artes, Ingenierías, Arquitectura...
    • Estudio morfológico de muestras orgánicas e inorgánicas, control de calidad, alteración de monumentos…

Asesor/a Científico/a

Personal Técnico

Tarifas

Tarifas
VPSEM001
Hora de uso SEM-VP
81
VPSEM002
Hora de uso FSEM-VP
111
VPSEM003
Varios. (Sin descuento)
Bajo presupuesto
VPSEM004
Reactivos para laboratorio (sin descuento)
Bajo presupuesto
VPSEM005
Reprocesado de datos (hora)
83
VPSEM006
Medios de montaje y almacenaje para VPSEM (sin descuento)
Bajo presupuesto
VPSEM007
Hora de uso FSEM-VP en autónomo
37
VPSEM008
Transporte (Sin descuento)
Bajo presupuesto
  • Usuarios UGRA: Se abonará el 30% del precio.
  • Usuarios OPIS: Se abonará el 50% del precio.
  • Usuarios PRI: Se abonará el 100% del precio.
  • Bajo presupuesto: Se abonará el 100% del precio independientemente del tipo de Usuario.