Servicio
Equipo
- Microscopio electrónico de trasmisión de ultra alta resolución y HAADF FEI TITAN G2 :
- Tensión de aceleración: con pasos seleccionables de 50 a 300 kV, con pasos prefijados a 50, 100, 150, 200, 250 y 300 kV.
- Magnificación: a) TEM: 1.25MX; b) STEM: 165MX
- Máxima resolución: Resolución TEM 0.8 Å y resolución STEM 2 Å
- Cañon de emisión de campo de tipo XFEG con filamento tipo Schottky
- Corrector de aberración esférica para lente objetivo (corrector Cs de imagen).
- Detector de STEM de tipo HAADF.
- Sistema FEI de microanálisis mediante dispersión de energía de Rayos X (EDX) Super X equipado con 4 detectores. Realización de análisis cualitativos y cuantitativos así como mapas elementales de RX con sistema de corrección de la deriva de la imagen.
- Filtro de Energía (EELS) Gatan GIF2002P, equipado con sistema de captación de imagen digital y obtención automática de espectros de pérdida de energía así como imágenes filtradas.
- Sistema de tomografía con adquisición de tomogramas entre +70º y -70º en modo TEM y STEM, reconstrucción tridimensional y visualización.
Técnicas
- TEM y NANOPROBE:
- Difracción de electrones (SAED)
- Contraste de amplitud:
- Campo claro (BF), formación de imágenes utilizando únicamente el rayo transmitido
- Campo oscuro (DF), formación de imágenes utilizando rayos difractados
- Contraste de fase: imágenes de alta resolución, utilizando el rayo transmitido y varios difractados
- STEM: permite la formación de imágenes de barrido de los electrones trasmitidos
- EDX
- EELS
- Tomografía
Aplicaciones
- Investigaciones geomineras, cristalográficas, mineralógicas y petrológicas
- Física del estado sólido, nuevos materiales y Química Inorgánica
- Control de calidad y estudio de fatiga de materiales
- Estudio de proteínas, ácidos nucléicos, virus, liposomas y bacterias
Asesor/a Científico/a
Personal Técnico
Tarifas
Tarifas
HRTEM001
Hora de uso del Microscopio de Transmisión de alta resolución FEI TITAN
199
HRTEM002
Minuto uso Microscopio de Transmisión de alta resolución FEI TITAN
3.32
HRTEM003
Preparación de una muestra en rejilla
49
HRTEM004
Soporte (sin descuento)
Bajo presupuesto
HRTEM005
Varios (sin descuento)
Bajo presupuesto