Servicio
Equipo
- Microscopio de Fuerza atómica NX20 (Park Systems)
- Microscopio de fuerza atómica con platina motorizada (recorrido XY: 150 mm; recorrido Z: 25 mm); fijación de obleas por vacío y platina multimuestra hasta 16 muestras.
- Escáner XY:
- Escáner de módulo simple de flexión XY con control de bucle cerrado.
Rango de escaneo: 100 μm x 100μm.
Control de posición de 20-bit y sensor de posición de 24-bit.
- Escáner de módulo simple de flexión XY con control de bucle cerrado.
- Escáner Z:
- Escáner piezoeléctrico apilado en Z de elevada fuerza guiada.
Rango de escaneo: 15 µm.
Control de posición de 20-bit y sensor de posición de 24-bit.
- Escáner piezoeléctrico apilado en Z de elevada fuerza guiada.
- Lentes del objetivo:
- 10× (0.21 NA) lentes para una distancia de trabajo ultra larga.
Objetivo en eje de visión de la superficie de la muestra y el cantiléver.
Acoplado con lente objetivo 10x Campo de visión: 840 × 630 µm.
CCD : 5M pixel.
- 10× (0.21 NA) lentes para una distancia de trabajo ultra larga.
- Escáner XY:
Técnicas
- Estándar de imagenología:
- Caracterización general:
- Propiedades eléctricas:
- Celda de Líquidos
- Sonda de Líquidos
-
- AFM True Non-Contact ; Contacto básico AFM y DFM; Microscopía de Fuerza Lateral (LFM); Imagenología de Fase; AFM Intermitente (repiqueteo).
-
- Microscopía de fuerza magnética (MFM)
Microscopía térmica de barrido (SthM)
Espectroscopía de Fuerza-Distancia (F-D)
Microscopía de Efecto túnel (STM)
Microscopía de Modulación de Fuerza (FMM)
Nanoindentación; Nanolitografía; Nanomanipulación
- Microscopía de fuerza magnética (MFM)
-
- Microscopía de barrido capacitancia (SCM)
AFM conductivo
Microscopía de fuerza electrostática (EFM)
Microscopía de fuerzas piezoeléctricas (PFM)
Microscopía de sonda Kelvin de barrido (SKPM)
- Microscopía de barrido capacitancia (SCM)
-
- Celda Universal de líquidos: celda para líquidos abierta o cerrada con perfusión de líquidos/gases
Rango de control de temperatura: hasta +180º C (en aire), hasta +150ª C (con líquidos)
Celda de líquidos abierta o cerrada
- Celda Universal de líquidos: celda para líquidos abierta o cerrada con perfusión de líquidos/gases
-
- Designada para muestras en medios líquidos
Resistente a la mayoría de disoluciones buffer incluyendo ácidos
Muestreos en líquido en modos Contacto y No Contacto
- Designada para muestras en medios líquidos
Aplicaciones
- Estudio morfológico y de las propiedades químico-físicas de nanoestructuras moleculares.
- Estudio de procesos dinámicos, cinéticas de disolución y crecimiento.
- Estudio de agregados de proteínas, biofilms y colóides.
- Medidas de nanolitografía, conductividad electrónica y propiedades mecánicas de circuitos electrónicos.
Asesor/a Científico/a
Personal Técnico
Tarifas
Tarifas
AFM001
Hora de sesión con Microscopio de Fuerza Atómica
120
AFM002
Adquisición punta PPP-NCHR 5M para topografía Modo no contacto (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM003
Adquisición punta PPP-CONTSCR 10M para topografía Modo contacto (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM004
Hora alquiler punta PPP-NCHR 5M para topografía Modo no contacto (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM005
Hora de alquiler punta PPP-CONTSCR 10M para topografía Modo contacto (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM006
Sustrato de mica para la deposición de la muestra (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM007
Sustrato de HOPG para la deposición de la muestra (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM008
Sustrato de silicio para la deposición de la muestra (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM009
Hora de trabajo de Técnico Superior
84
AFM010
Varios (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM011
Hora de alquiler punta CDT-CONTR para medidas de C-AFM (Sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM012
Hora de alquiler punta NSC - 14 para medidas de FMM (Sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM013
Sustrato para C-AFM: Silicon Wafer P-(Boron) doped. (Sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM014
Sustrato para C-AFM: Silicon Wafer N-(As) doped. (Sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM015
Hora de alquiler de punta CONTSCPt para medidas de C-AFM (Sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM016
Adquisición de punta CONTSCPt para medidas de C_AFM (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM017
Adquisición de punta CDT-CONTR para medidas de C_AFM (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM018
Adquisición de punta NSC-14 para medidas de FMM (sin descuento)
Bajo presupuesto
AFM019
Adquisición de puntas NSC-36 para topografía de contacto muestras biológicas (s.d.)
Bajo presupuesto
AFM020
Hora de alquiler de punta NSC-36 para topografía de contacto muestras biológicas (s.d.)
Bajo presupuesto
AFM021
Hora de alquiler de punta MFMR para topografía modo MFM (s.d.)
Bajo presupuesto