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- SERVICIO DE MICROSCOPíA
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- ME DE BARRIDO DE PRESIÓN VARIABLE
[VPSEM]
Fuentenueva. Sede Central
- EQUIPO
- Microscopio Electrónico de Barrido de Presión Variable, de Alta Resolución (FESEM)
Zeiss SUPRA40VP dotado de:
-Fuente de electrones por emisión de campo tipo Schottky (cátodo caliente).
-Tensión de aceleración desde 0.2kv a 30 kv.
-Resolución: 1.3nm@ 15Kv; 2,1@ 1kv;2nm@ 30Kv (VP mode).
-Imágenes de alta calidad y resolución a incluso bajos Kv y/o bajo vacío (hasta 400Pa)
-Detectores:
SE secundarios en alto vacío (topográfico lateral), In Lens secundarios en alto vacío(topográfico cenital),VPSE secundarios en bajo vacío, AsB Retrodispersados en alto y bajo vacío, STEM Transmitidos DF y BF.
-Sistema de Microanálisis por Energía Dispersiva de Rayos X (EDX) con detector de gran superficie X-Max 50mm
-Analizador Quimico Estructural (SCA), espectrómetro Raman con dos líneas de excitación laser de 532 y 785nm.
- Microscopio Electrónico de Barrido de Presion Variable, LEO 1430-VP dotado de:
-Filamento de Wolframio, con una resolucion espacial de 3.5 nm.
-Tensión de aceleración desde 0.2kv a 30 kv.
-Rangos de aumentos de 15x a 300kx dependiendo de las condiciones de trabajo.
-Control digital de todas las funciones.
-Detector de SE de alto vacio, tipo centelleador de fosforo acoplado opticamente al fotomultiplicador.
-Detector de Se de bajo vacio, con polarizacion ajustable en continuo entre -250V y +400V.
-Detector de BSE en alto vacio y presion variable, tipo estado solido, de 4 cuadrantes con control independiente cada uno de los diodos para la obtención de imágenes por composición y por topografia.
- Microscopio Electrónico de Barrido de Presion Variable, LEO 1430-VP dotado de:
- Técnicas Para el SUPRA40VP:
- Estudio morfológico , analítico y estructural de las muestras, incluso no conductoras
- Imágenes de electrones transmitidos (STEM) a bajo Kilovoltaje (hasta 30Kv)
3Imágenes digitales morfológicas, químicas, así como mapas de Rayos X .
- Análisis cuali-cuantitativo por EDX(este ultimo en muestras delgado pulidas en condiciones de Alto vacio).
- Análisis químico-estructural por Espectroscopia Raman.
Para el LEO 1430-VP:
- Digitalización de cualquier imagen obtenida en el microscopio.
- Estudios topograficos y estructurales de las muestras , distribución de elementos composicionalmente por numero atomico medio de sus componentes en muestras pulidas.
- Imágenes de electrones transmitidos (STEM) a bajo Kilovoltaje (hasta 30Kv)
- Aplicaciones Para el SUPRA40VP:
- Investigación basica en Ciencias Biomédicas, Geológicas, Químicas, Físicas, Bellas Artes, Ingenierías, Arquitectura...
- Estudio morfológico-composicional de muestras orgánicas e inorgánicas con aplicaciones en: Control de Calidad industrial, conservación de Patrimonio, Farmacologico, Biomedico, Minero, Forense, etc.
Para el LEO 1430-VP:
- Investigación en general en Ciencias Biomédicas, Geológicas, Químicas, Físicas,
Bellas Artes, Ingenierías, Arquitectura...
- Estudio morfológico de muestras orgánicas e inorgánicas, control de calidad, alteración de monumentos…
- Estudio morfológico-composicional de muestras orgánicas e inorgánicas con aplicaciones en: Control de Calidad industrial, conservación de Patrimonio, Farmacologico, Biomedico, Minero, Forense, etc.
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