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- Servicio
- SERVICIO DE MICROSCOPÍA
- Unidad
- ME DE TRASMISIÓN DE ALTA RESOLUCIÓN
[HRTEM]
Fuentenueva. Sede Central
- EQUIPO
- Microscopio electrónico de trasmisión de alta resolución y STEM PHILIPS CM20 :
-Tensión de aceleración: con pasos seleccionables de 20, 40, 80, 120, 160 y 200 KV
-Magnificación: a) TEM: 660.000X; b) STEM: 300.000X
-Máxima resolución: a) TEM: entre puntos: 2.7 A, y entre líneas: 1.4 A; b) STEM: 50 A
-Sistema EDAX de microanálisis mediante dispersión de energía de Rayos X (EDX), tanto cualitativos como cuantitativos, de áreas de muy reducido tamaño
- Microscopio electrónico de trasmisión de ultra alta resolución y HAADF FEI TITAN G2 :
-Tensión de aceleración: con pasos seleccionables de 50 a 300 kV, con pasos prefijados a 50, 100, 150, 200, 250 y 300 kV.
-Magnificación: a) TEM: 1.25MX; b) STEM: 165MX
-Máxima resolución: Resolución TEM 0.8 Å y resolución STEM 2 Å
-Cañon de emisión de campo de tipo XFEG con filamento tipo Schottky
-Corrector de aberración esférica para lente objetivo (corrector Cs de imagen).
-Detector de STEM de tipo HAADF.
-Sistema FEI de microanálisis mediante dispersión de energía de Rayos X (EDX) Super X equipado con 4 detectores. Realización de análisis cualitativos y cuantitativos así como mapas elementales de RX con sistema de corrección de la deriva de la imagen.
-Filtro de Energía (EELS) Gatan GIF2002P, equipado con sistema de captación de imagen digital y obtención automática de espectros de pérdida de energía así como imágenes filtradas.
-Sistema de tomografía con adquisición de tomogramas entre +70º y -70º en modo TEM y STEM, reconstrucción tridimensional y visualización.
- Microscopio electrónico de trasmisión de ultra alta resolución y HAADF FEI TITAN G2 :
- Técnicas
- TEM y NANOPROBE:
-Difracción de electrones (SAED)
-Contraste de amplitud:
Campo claro (BF), formación de imágenes utilizando únicamente el rayo transmitido
Campo oscuro (DF), formación de imágenes utilizando rayos difractados
-Contraste de fase: imágenes de alta resolución, utilizando el rayo transmitido y varios difractados
- STEM: permite la formación de imágenes de barrido de los electrones trasmitidos
- EDX
- EELS
- Tomografía
- STEM: permite la formación de imágenes de barrido de los electrones trasmitidos
- Aplicaciones
- Investigaciones geomineras, cristalográficas, mineralógicas y petrológicas
- Física del estado sólido, nuevos materiales y Química Inorgánica
- Control de calidad y estudio de fatiga de materiales
- Estudio de proteínas, ácidos nucléicos, virus, liposomas y bacterias
- Física del estado sólido, nuevos materiales y Química Inorgánica
Técnico Responsable
Mª del Mar Abad Ortega
958249989
mmabad@ugr.es
8h a 15h
Javier Cifuentes Melchor
958244209/ 958246604
javcif@ugr.es
8h a 15h
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